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我們目前的研究主題有:

磁性金屬薄膜之磁光科爾效應量測
磁光科爾效應量測技術改進
磁性薄膜之磁阻特性應用
磁性感側元件之雜訊量測與分析
掃描式穿隧電子顯微術之原子解析應用